В книге рассмотрены вопросы теории и практики методов контроля дефектов кристаллической решетки и электрофизических свойств многослойных структур на различных этапах изготовления полупроводниковых приборов и интегральных микросхем. Приведены данные и практические рекомендации по контролю поверхности, структуре и свойствам тонких пленок и межфазовых границ раздела контактов металлполупроводник, металл-диэлектрик-полупроводник. Рассмотрены физические способы контроля качества микросварки и пайки интегральных микросхем, а также вопросы оптимизации и автоматического управления технологическими процессами с использованием информации о качестве многослойных структур.
Книжный магазин ЖИЗНЬ КНИГАМ в Москве, предлагает более 10 000 книг, например - антикварные книги издание до 1940 года, букинистические книги издание от 1940 до 2010 года, книги seconhend издание от 2010! Книги постоянно обновляются. Вы можете нам позвонить или написать и задать дополнительные вопросы перед покупкой. Сохранность соответствует представленным фотографиям.